|
|
Termoemisní zdroje elektrické energie
Primes, Alois ; Pospíšil, Jiří (oponent) ; Brázdil, Marian (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se věnuje termoemisním zdrojům elektrické energie. V první části práce byla provedena rešerše týkající se principu termoemisní přeměny a fyzikálních jevů, které se při této přeměně vyskytují. V další části je uvedeno rozdělení termoemisních generátorů dle konstrukce. Z provedené rešerše vyplývá, že v současné době se testují především vakuové termoemisní generátory. Poté následuje přehled vybraných termoemisních generátorů a je uvedeno, za jakým účelem byly zkonstruovány a jakých výsledků dosáhly. Bylo zjištěno, že pro experimentální účely se využívalo ohřevu elektrickým proudem, což může uměle zvyšovat účinnost testovaných zařízení. Závěr je věnován porovnání výkonů a účinností termoemisních zařízení a jejich možnému využití v blízké budoucnosti. Dá se předpokládat, že se některé typy termoemisních generátorů uplatní v elektrárnách využívajících vysokoteplotní zdroje tepla, a zvýší tak jejich účinnost.
|
|
|
Studium lokálně modifikovaných povrchů pro selektivní růst kobaltu
Krajňák, Tomáš ; Bábor, Petr (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
V této práci se pomocí metody rentgenové fotoelektronové spektroskopie určovala chemická analýza křemíkových substrátů s orientací (1 1 1). Byly využity přístroje XPS Kratos Supra a elektronový mikroskop Tescan LYRA3 s iontovým svazkem FIB ve sdílených laboratořích CEITEC (CF Nano). Povrch použitých substrátů byl lokálně modifikován fokusovaným iontovým svazkem gallia. Byly odprašovány čtvercové plochy o nominálních hloubkách od 1 nm do 10 nm. Dále byl studován vliv žíhání na takto modifikované oblasti. Výstupem této práce je určení závislostí intenzit Si 2p a Ga 2p3/2. Byla určena závislost intenzit těchto píků na nominální hloubce odprášených ploch a vliv teploty na tyto plochy. XPS analýza povedená po modifikaci substrátu fokusovaným iontovým svazkem odhalila přítomnost gallia a další složku píku Si 2p. Tato komponenta byla přiřazena amorfnímu křemíku. Veškeré gallium bylo ze vzorku odstraněno při žíhání vzorku na teplotě 700 °C po dobu 120 minut.
|
|
| |
|
|
Charakterizace autoemisních zdrojů pro elektronovou mikroskopii
Vašíček, Martin ; Tománek, Pavel (oponent) ; Grmela, Lubomír (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá teoretickými základy emise elektronů do vakua, jednotlivými typy emisí se zaměřením na studenou a Schottkyho emisi a principu tunelového jevu. V další části se práce věnuje technické realizaci elektronových zdrojů s detailním prostudováním metodiky laboratorní výroby katod elektrochemickým leptáním a konstrukcí elektronových mikroskopů, využívajících autoemisních zdrojů. Součástí práce je návrh metody pro měření, zpracování a vyhodnocování elektrických charakteristik emisních zdrojů.
|
|
| |
|
| |
|
|
Termoemisní zdroje elektrické energie
Primes, Alois ; Pospíšil, Jiří (oponent) ; Brázdil, Marian (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se věnuje termoemisním zdrojům elektrické energie. V první části práce byla provedena rešerše týkající se principu termoemisní přeměny a fyzikálních jevů, které se při této přeměně vyskytují. V další části je uvedeno rozdělení termoemisních generátorů dle konstrukce. Z provedené rešerše vyplývá, že v současné době se testují především vakuové termoemisní generátory. Poté následuje přehled vybraných termoemisních generátorů a je uvedeno, za jakým účelem byly zkonstruovány a jakých výsledků dosáhly. Bylo zjištěno, že pro experimentální účely se využívalo ohřevu elektrickým proudem, což může uměle zvyšovat účinnost testovaných zařízení. Závěr je věnován porovnání výkonů a účinností termoemisních zařízení a jejich možnému využití v blízké budoucnosti. Dá se předpokládat, že se některé typy termoemisních generátorů uplatní v elektrárnách využívajících vysokoteplotní zdroje tepla, a zvýší tak jejich účinnost.
|
|
|
Studium lokálně modifikovaných povrchů pro selektivní růst kobaltu
Krajňák, Tomáš ; Bábor, Petr (oponent) ; Čechal, Jan (vedoucí práce)
V této práci se pomocí metody rentgenové fotoelektronové spektroskopie určovala chemická analýza křemíkových substrátů s orientací (1 1 1). Byly využity přístroje XPS Kratos Supra a elektronový mikroskop Tescan LYRA3 s iontovým svazkem FIB ve sdílených laboratořích CEITEC (CF Nano). Povrch použitých substrátů byl lokálně modifikován fokusovaným iontovým svazkem gallia. Byly odprašovány čtvercové plochy o nominálních hloubkách od 1 nm do 10 nm. Dále byl studován vliv žíhání na takto modifikované oblasti. Výstupem této práce je určení závislostí intenzit Si 2p a Ga 2p3/2. Byla určena závislost intenzit těchto píků na nominální hloubce odprášených ploch a vliv teploty na tyto plochy. XPS analýza povedená po modifikaci substrátu fokusovaným iontovým svazkem odhalila přítomnost gallia a další složku píku Si 2p. Tato komponenta byla přiřazena amorfnímu křemíku. Veškeré gallium bylo ze vzorku odstraněno při žíhání vzorku na teplotě 700 °C po dobu 120 minut.
|
|
| |
|
|
Charakterizace autoemisních zdrojů pro elektronovou mikroskopii
Vašíček, Martin ; Tománek, Pavel (oponent) ; Grmela, Lubomír (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá teoretickými základy emise elektronů do vakua, jednotlivými typy emisí se zaměřením na studenou a Schottkyho emisi a principu tunelového jevu. V další části se práce věnuje technické realizaci elektronových zdrojů s detailním prostudováním metodiky laboratorní výroby katod elektrochemickým leptáním a konstrukcí elektronových mikroskopů, využívajících autoemisních zdrojů. Součástí práce je návrh metody pro měření, zpracování a vyhodnocování elektrických charakteristik emisních zdrojů.
|
host ::
RSS.